Название книги: Дефекты кристаллической структуры полупроводниковых материалов


Автор: Владимир Кочемировский , Иван Соколов


ISBN:


Издательство: Санкт-Петербургский государственный университет


Год: 2013


Кол-во стр.: 37


В настоящем учебном пособии рассмотрены основные типы дефектов кристаллической решётки и их влияние на свойства полупроводникового кристалла.
Полупроводниковый кристалл – основа микроэлектроники. Создание полупроводниковых материалов со строго заданными параметрами электрических и оптических свойств – сложнейший технологический процесс. Малейшие отклонения от заданного состава полупроводникового материала, как широко известно, приводят к неконтролируемому изменению его свойств.
Менее широко известно, что практически такую же роль играет степень дефектности полупроводникового кристалла, т. е. количество и качество отклонений от идеальной кристаллической структуры, появляющихся в кристалле в процессе его роста под влиянием многочисленных внешних факторов: диффузионных ограничений, температурных флуктуаций, побочных химических реакций и т. д.
Книга адресована студентам, специализирующимся по направлениям "Физическая химия", "Неорганическая химия", и может использоваться в качестве учебного пособия к курсу "Химия кристаллических полупроводников".